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薄膜电容是一种性能很优秀的电容器，它的主要特性如下：无极性，绝缘阻抗很高，频率特性优异(频率响应宽广)，而且介质损失很小。基于以上的优点，所以薄膜电容器被大量使用在模拟电路上。那么薄膜电容失效的主要原因是哪个了，瓷谷电子的小编为你解答一下。

薄膜电容失效的原因主要在于保护层防潮性不好和实际应用中存在交电流。我们知道薄膜电容器被广泛应用于电子镇流器中，在使用上有一些特殊的要求，这主要包括高湿度、高电压、高频率、高温度、高纹波电流和长寿命等。电子镇流器被安装在屋外，它们的使用环境是非常严酷的，必须承受恶劣的外界环境，比如严寒和冰雪，高温和雨水，高湿等等。

在实际使用中，薄膜电容器的性能老化及失效是由温度，湿度和电应能力综合影响引起的。当有潮气存在时，电压还会引起电解，加速老快过程。对于薄膜电容器，如果环氧包装封料保护层的防潮作用有限，潮气机会侵入。电容器的失效机理是与产品的类型、材料的种类、结构的差异、制造工艺及环境条件、工作应力等诸因素有密切的关系。潮湿是引起薄膜电容器电性能参数退化的主要原因。

随着元器件可靠性的提高，以及新型元器件的不断开发和使用，对我们元器件工程师的要求也会越来越高。我们必须了解各种元器件，掌握它们的特性、结构、失效模式和机理、产品规范、降额使用准则、使用中注意的问题和防护措施等相关内容。对于元器件工程师来讲，对失效产品的分析是我们的工作职责。通过失效分析，我们可以确认失效原因，有针对性采取相对应的措施，提供产品的可靠性。

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